X射线衍射仪

1.仪器型号：SmartLab

2.制造厂商：Rigaku

3.功能说明：

（1）常温物象测量。X射线衍射（X-ray Diffraction，简称XRD）是一种广泛用于研究晶体结构和物相分析的强大技术。常温物相测量是XRD分析中的一种基本方法，用于确定材料在室温下的晶体结构和物相组成。常温物相测量是材料科学和固体物理学中的一项关键技术，用于确定材料的晶体结构、晶格参数和物相组成。通过测定材料对X射线的散射模式，可以获得关于晶体结构的信息，包括晶格常数、晶体对称性和原子排列方式。这对于了解材料的性质、性能和应用具有重要意义。常温物相测量广泛应用于材料科学、化学、地质学和生物学等领域。一些具体应用包括：材料研究：用于分析晶体结构、确定晶体有序性和了解材料的性质。药物研究：用于确定药物的晶体结构，从而帮助设计更有效的药物。地质学：用于分析地球中的矿物组成和晶体结构，了解地质过程。生物学：用于研究生物大分子（如蛋白质和DNA）的晶体结构等。

（2）宏观织构测量。X射线衍射（XRD）是一种强大的材料分析技术，它可用于测量和分析材料的晶体结构和晶体取向，包括宏观织构的测量。宏观织构是指材料在宏观尺度上的晶体取向分布，它对材料的各向异性和性能具有重要影响。XRD是一种通过测量材料中X射线的散射来获取关于晶体结构和晶体取向的信息的非破坏性分析技术。X射线在材料中与晶格面相互作用，产生衍射图案，这些图案包含了有关晶体结构和取向的信息。通过对这些图案进行分析，可以确定材料中不同晶体晶向的取向分布，从而揭示宏观织构。XRD宏观织构测量在材料科学和工程中具有广泛的应用，一些典型的应用领域包括：金属材料：它可用于研究金属材料的滚动方向、冷变形效应和热加工过程中的晶体取向。岩石学和地质学：用于分析岩石和矿物中的晶体取向，从而了解地质历史和构造特征。纺织品：用于研究纺织品中纤维的取向，影响材料的物理性质和机械性能。

4.性能指标：

（1）X射线发生器：

①旋转阳极：最大额定功率9kW；管电压可变范围20kV~45kV；管电流可变范围10mA~200mA

②封闭式：最大额定功率3kW；管电压可变范围20kV~60kV；管电流可变范围2mA~60mA

（2）θ-θ型测角仪：保持样品水平的条件下进行ω扫描、2θ/ω扫描和2θ扫描

（3）样品部构成：

①通用Z附件台

A. 附件

B. 附件底座与附件头

②xφZ附件台

附件台

（4）探测器：低位二次电子探测器

（5）交叉光束元件：

①CBO：切换发散光束和平行光束

②CBO-E：切换发散光束和聚光光束

③CBO-α：切换发散光束和单色化发散光束

（6）探测器：

①一维探测器：D/teX Ultra250、D/teX Ultra250-HE

②二维探测器：HyPix-400、HyPix-3000

5.样品要求：

粉末样品或块状样品（长宽不超过20mm）

6.收费标准：

（1）常温物相测量：

①收谱时间≤20min

校内：50元/样品；校外：80元/样品

②20min≤收谱时间≤60min

校内：70元/样品；校外：120元/样品

③收谱时间＞60min

校内：100元/样品；校外：160元/样品

（2）宏观织构测量：

校内：100元/机时；校外：150元/机时

备注：不足1小时按1小时计算